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                  MueTec 成立于1991年,总部位于德国慕尼黑。致力于开发高精度光学测量和检测解决方案,帮助全球半导体和微⌒ 电子行业的客户提高他们的生产良率和过程控制已有近30年历史.

                  MueTec 在亚微米级的检测和测量领域有着丰富的经验和长期的声誉,在过去30年里,已经在■世界各地安装了超过300套半导体光学测量和检测系统,在不同的工▽艺条件下为客户持续提供可靠的数据与无与伦比的重复性.

                  MueTec 的技术专家团队倾听、响应和≡预测全球的晶圆、掩膜、MEMS、MOEMS 制造商的需求,并以极低的维护要求提供定制化和标准的解决方案。可扩展的系统允许在一个系♂统中结合多种不同的应用,包括关键尺◥寸( CD)、套刻(Overlay)和薄膜厚度(Film Thickness)测量,以及缺陷检测(Defect Inspection)和缺陷 Review.

                  2020年与天准科技签订ぷ全资收购协议.

                  INFRARED TECHNOLOGY

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