内容标题16

  • <tr id='WSJRtG'><strong id='WSJRtG'></strong><small id='WSJRtG'></small><button id='WSJRtG'></button><li id='WSJRtG'><noscript id='WSJRtG'><big id='WSJRtG'></big><dt id='WSJRtG'></dt></noscript></li></tr><ol id='WSJRtG'><option id='WSJRtG'><table id='WSJRtG'><blockquote id='WSJRtG'><tbody id='WSJRtG'></tbody></blockquote></table></option></ol><u id='WSJRtG'></u><kbd id='WSJRtG'><kbd id='WSJRtG'></kbd></kbd>

    <code id='WSJRtG'><strong id='WSJRtG'></strong></code>

    <fieldset id='WSJRtG'></fieldset>
          <span id='WSJRtG'></span>

              <ins id='WSJRtG'></ins>
                <acronym id='WSJRtG'><em id='WSJRtG'></em><td id='WSJRtG'><div id='WSJRtG'></div></td></acronym><address id='WSJRtG'><big id='WSJRtG'><big id='WSJRtG'></big><legend id='WSJRtG'></legend></big></address>

                <i id='WSJRtG'><div id='WSJRtG'><ins id='WSJRtG'></ins></div></i>
                <i id='WSJRtG'></i>
              • <dl id='WSJRtG'></dl>
                1. <blockquote id='WSJRtG'><q id='WSJRtG'><noscript id='WSJRtG'></noscript><dt id='WSJRtG'></dt></q></blockquote><noframes id='WSJRtG'><i id='WSJRtG'></i>

                  MueTec可在规则或者非规则的缺陷识别、高阶模式识别、对象分析、对象建模、对象过滤∑算法方向为客户提供定制化的软件及硬件方案,并拥有长期经验。根据需求,可为几乎所有基底分析提供经济高效的定制化解决方案。


                  MueTec提供的SDI算法不仅仅是根据Wafer-to-Wafer原理,检测晶圆的变化,同时支持Die-to-Die检测方式,Die的相关信息也会被同步分析。Die-to-Die检测方式不限制Die尺寸,甚至可以支持到整个晶圆大小。可以通过过滤器定义缺陷尺寸、缺陷区域、缺陷形态、缺陷在芯片或衬底内的位置,进行缺陷分类。